400-150-1718 直讀光譜儀即原子發(fā)射光譜儀，是伴隨著計算機技術(shù)的發(fā)展迅速發(fā)展的一類儀器。由于計算機技術(shù)的發(fā)展，電子技術(shù)的發(fā)展，電子計算機的小型化及微處理機的出現(xiàn)和普及，成本降低等原因，光譜儀器從很久以前就采用計算機控制，這不僅提高了分析精度和速度，而且對分析結(jié)果的數(shù)據(jù)處理和分析過程實現(xiàn)自動化控制。
直讀光譜儀用于對金屬材料化學(xué)成分的定量檢測，目的在于對被檢測材料有一個直接的了解，以判斷被測材料是否合格。直讀光譜儀雖然本身測量準(zhǔn)確度很高，但測定試樣中元素含量時， 所得結(jié)果與真實含量通常不一致，存在一定誤差。下面就誤差的種類、來源及如何避免誤差進行分析。
根據(jù)誤差的性質(zhì)及產(chǎn)生原因， 直讀光譜儀誤差主要有兩類：
1. 直讀光譜儀系統(tǒng)誤差
(1)標(biāo)樣和試樣中的含量和化學(xué)組成不完全相同時，可能引起基體線和分析線的強度改變，從而引入誤差。
(2)標(biāo)樣和試樣的物理性能不完全相同時，激發(fā)的特征譜線會有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。
(3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不相同時，測出的數(shù)據(jù)會有所差別。
(4)未知元素譜線的重疊干擾。如熔煉過程中加入脫氧劑、除硫磷劑時，混入未知合金元素而引入系統(tǒng)誤差。
要消除系統(tǒng)誤差，需要嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)樣品制備規(guī)定要求進行樣品備制。為了檢查系統(tǒng)誤差，還需要采用化學(xué)分析方法分析多次校對結(jié)果。
2.直讀光譜儀偶然誤差
偶然吳超與樣品成分不均勻有關(guān)。因為光電光譜分析所消耗的樣品很少，樣品中元素分布的不均勻性、組織結(jié)構(gòu)的不均勻性，導(dǎo)致不同部位的分析結(jié)果不同而產(chǎn)生偶然誤差。
(1)熔煉過程中帶入夾雜物，產(chǎn)生的偏析等造成樣品元素分布不均。
(2)試樣的缺陷、氣孔、裂紋、砂眼等。
(3)磨樣紋路交叉、試樣研磨過熱、試樣磨面放置時間太長和壓上指紋等因素。
要減少偶然誤差，就要精心取樣，消除試樣的不均勻性及試樣的鑄造缺陷，也可以重復(fù)多次分析來降低分析誤差。
直讀光譜儀用于對金屬材料化學(xué)成分的定量檢測，目的在于對被檢測材料有一個直接的了解，以判斷被測材料是否合格。直讀光譜儀雖然本身測量準(zhǔn)確度很高，但測定試樣中元素含量時， 所得結(jié)果與真實含量通常不一致，存在一定誤差。下面就誤差的種類、來源及如何避免誤差進行分析。
根據(jù)誤差的性質(zhì)及產(chǎn)生原因， 直讀光譜儀誤差主要有兩類：
1. 直讀光譜儀系統(tǒng)誤差
(1)標(biāo)樣和試樣中的含量和化學(xué)組成不完全相同時，可能引起基體線和分析線的強度改變，從而引入誤差。
(2)標(biāo)樣和試樣的物理性能不完全相同時，激發(fā)的特征譜線會有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。
(3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不相同時，測出的數(shù)據(jù)會有所差別。
(4)未知元素譜線的重疊干擾。如熔煉過程中加入脫氧劑、除硫磷劑時，混入未知合金元素而引入系統(tǒng)誤差。
要消除系統(tǒng)誤差，需要嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)樣品制備規(guī)定要求進行樣品備制。為了檢查系統(tǒng)誤差，還需要采用化學(xué)分析方法分析多次校對結(jié)果。
2.直讀光譜儀偶然誤差
偶然吳超與樣品成分不均勻有關(guān)。因為光電光譜分析所消耗的樣品很少，樣品中元素分布的不均勻性、組織結(jié)構(gòu)的不均勻性，導(dǎo)致不同部位的分析結(jié)果不同而產(chǎn)生偶然誤差。
(1)熔煉過程中帶入夾雜物，產(chǎn)生的偏析等造成樣品元素分布不均。
(2)試樣的缺陷、氣孔、裂紋、砂眼等。
(3)磨樣紋路交叉、試樣研磨過熱、試樣磨面放置時間太長和壓上指紋等因素。
要減少偶然誤差，就要精心取樣，消除試樣的不均勻性及試樣的鑄造缺陷，也可以重復(fù)多次分析來降低分析誤差。
